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光折变晶体用于光学材料的折射率均匀性测量的研究
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TH740.4

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    本文提出了光折变晶体用于光学材料均匀性测量的实验方法,给出了一些实验结果,讨论了该方法的特点及实验中应注意的问题。

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岳学峰 邵宗书.光折变晶体用于光学材料的折射率均匀性测量的研究[J].光电子激光,1991,(1):45~48

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