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用光学延迟器和旋转器测量双折射性质的方法
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    本文描述使用光学延迟器和旋转器系统测量双折射性质的方法。实验装置包括由波板、Kerr池、Pockels池、Faraday旋转器及偏振器等组成。采用Jones矩阵分析方法,对不同实验组态作了比较讨论,选出最佳的实验安排,它能增强测量灵敏度及改进

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引用本文

梁瑞生,张坤明,司徒达.用光学延迟器和旋转器测量双折射性质的方法[J].光电子激光,1991,(6):

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