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干涉法测量半导体激光器波长
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TN248.4

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    本文给出了一种用于测量低功率半导体激光器波长的新方法,测量精度可小于0.2nm。用此方法对GaAlAs半导体激光器的发射波长和模特性进行了测试和分析,得到了GaAlAs半导体激光器波长随工作电流和温度的变化关系。

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引用本文

牟晓东 邵宗书.干涉法测量半导体激光器波长[J].光电子激光,1992,(3):146~148

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