TP360.6
本文介绍了利用IBM微计算机及单片机进行数据采集、处理与控制的激光荧光测试系统,实现了测试过程的自动化。用此系统对Ⅲ-Ⅴ族半导体材料进行了测试,并自动打印出所需的光谱数据,还研究了沿试样表面组分x值的均匀度。实验证明,该系统不仅效率高,还改善了信噪比。
宋国瑞 姚惠贞.激光荧光微计算机测试系统及应用[J].光电子激光,1992,(4):251~255