边缘增锐型相移光刻技术的研究及其数值模拟
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TN305.7

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The Study and Computer Simulation of the Side Enchancement Phase-Shift Photolithgraphy
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    摘要:

    相移光刻技术可以提高光刻设备的分辨率,为制作二元光学器件及超大规模集成电路提供了更强的技术力量,本文简单介绍相移光刻技术的基本原理,用自编的软件通过数值模拟对边缘增锐相移光刻技术做了探讨,给出了适合国内g-线投曝光机的边缘增锐型相移掩模的设计参数。

    Abstract:

    Phase-shift thchnology can improve greatly the resolution of the existing photolithgraphy equpment. It provides stronger technical tool for manufacturing binary optical elements andVLSI. The Basic principle of phase-sgift mask was introduced. The side-enchancement phase-shift thchnology was investigated through the computer simulation. The useful design parameter for developing phase-shift thchnology with domestic g-line projector was given.

    参考文献
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    引证文献
引用本文

周静 徐大雄.边缘增锐型相移光刻技术的研究及其数值模拟[J].光电子激光,1995,(3):183~186

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