准直检测的改进—半孔径双向剪切干涉法
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TN247 TH744.3

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Improved of Collimation Testing-Half-aperture Bidirection Shearing Interferometry
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    文中论述了半孔径双向剪切干涉仪的结构及进行准直检测的原理,给出了干涉条纹表达达式,讨论了该法的检测灵敏度。将检测结果与Talbot干涉法的结果做了分析比较。

    Abstract:

    Thispaper dealswith the construction of HABS interferometer and theprinciple of collimation testing, gives the formulas of interferogram and discusses the testing sensitivity of This method. Theresults obtained compared with the results of Talbot interferometry.

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杨志文 金锡哲.准直检测的改进—半孔径双向剪切干涉法[J].光电子激光,1996,(4):220~223

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