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正入射软X射线显微成像研究陈星旦曹健林王占山缪同群翁志成(中国科学院长春光学精密机械研究所,长春130022)项目批准号:69088008在国内率先研究了正入射X射线显微成像技术,并获得了优于1μm分辨率的正入射X射线显微成像系统,达到国际同等水平。...
陈星旦 曹健林.正入射软X射线显微成像研究[J].光电子激光,1998,(2):159