用CCD测量彩色显像屏特性的光学成像系统设计
DOI:
CSTR:
作者:
作者单位:

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

TN141.32

基金项目:


The Design for Optical Imaging System of Measuring Screen Paramaters of Colour Kinescope by CCD
Author:
Affiliation:

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    本文讨论了彩色显像管色纯漂移,电子束着屏误差,失会聚量测试用的光学成像系统的光路特点、设计原则、放大倍率的选定及光路选型及像差校正方法。

    Abstract:

    This paper discribes a optical imaging system which is used to measure colour purity drift,electron beam landing screen deviation and 3 beam misconvergence,and the optical path feature,the selected method of magnification and the aberration correction are described.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

张益民.用CCD测量彩色显像屏特性的光学成像系统设计[J].光电子激光,1998,(4):316~318

复制
分享
文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:
  • 最后修改日期:
  • 录用日期:
  • 在线发布日期:
  • 出版日期:
文章二维码