本文着重探讨了在考虑组器件的不同层材料之间的折射率差时对器件的性能进行分析和方法，并与ＫａｔｓｕｍｉＫｉｓｈｉｎｏ，Ｍ．ＳｅｌｉｍＵｎｌｕｅ提出的分析方法进行了比较。指出当折射率相差较小时，两种分析方法所得现的最佳峰值量子效率折射率的变化特性极为近似，但在响应光谱结构上存在着差别，而当折射率相差较大时，采用两种分析方法所得结果之间的差别很大。本文的分析更接近于实际情况。