用Z扫描法测量a—Si／SiO2多量子阱材料非线性折射率
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TN201 TN304.01
基金项目:
国家自然科学重大基金
Measurement of the Nonlinearities of a Si/SiO_2 MQW with Z scan Method
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引用本文
周赢武 郭亨群.用Z扫描法测量a—Si／SiO2多量子阱材料非线性折射率[J].光电子激光,1999,(5):431~433
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