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现有精密尺寸测量系统采用单阵列的线阵CCD作为光电传感器,不能检测像元的排列方向与物体尺寸方向的夹角γ,而当夹角γ在测量中发生变化时将引起测量误差,本文采用彩色线阵CCD(TCD2901D)作为光电传感器进行精密尺寸测量,检测出夹角变化带来的尺寸测量误差,得到了误差的修正方法。
张盛彬 王庆有 等.彩色线阵CCD用于物体尺寸精密测量的研究[J].光电子激光,2001,(11):1159~1161