移相式微分干涉相衬显微测量系统的研制
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中图分类号:
TN742
基金项目:
国家自然科学基金资助项目(59975052)
The Manufacture of a Phase Stepping Differential Interference Contrast Microscopy Measuring System
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引用本文
惠梅 李庆祥 等.移相式微分干涉相衬显微测量系统的研制[J].光电子激光,2002,(11):1141~1144
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- 最后修改日期:2002-06-19
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