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基于双光栅结构的阴影莫尔法三维形貌测量
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[cstr]
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TN25

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A Shadow Moire System Based on Two Ronchi Gratings Structure for the Measurement of 3D Profile
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    提出将双Ronchi光栅结构引入阴影莫尔法，用于物体三维形貌的测量。通过选择两光栅的夹角，得到不同周期的莫尔条纹，既可使仪器的量程与待测物体尺度相匹配，从而减小测量误差，适于进行高精度检测；又可在相位的1个周期内实现对物体的测量，避免了相位卷叠，易于实现自动测量。模拟实验结果表明，与绝对莫尔法相比，本方法可提高测量精度。

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引用本文

杨晓苹 王莱 等.基于双光栅结构的阴影莫尔法三维形貌测量[J].光电子激光,2002,(11):1155~1158

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  • 最后修改日期:2002-04-05
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