光栅投影三维轮廓测量及关键技术分析
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TH74 TN247

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教育部科学技术研究重点资助项目 (9914 0 )


3-D Profilometry Measurement Using Grating Projection and Key Techniques Analysis
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    摘要:

    说明了光栅投影三维测量技术的原理;就国内外的研究和应用状况,对三维测量中的关键技术,如相位测量,解相位,数据配位和拼接,系统结构的调整和标定等进行了分析综述。

    Abstract:

    The principles of 3 D measurement are reviewed briefly first.On the basis of current research and application,some key techniques,including phase demodulation,phase unwrapping,physical discontinuities,data registration and connection and system optimization and calibration,are inverstigated in detail.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

牛小兵 林玉池 等.光栅投影三维轮廓测量及关键技术分析[J].光电子激光,2002,(9):983~986

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  • 最后修改日期:2002-02-15
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