SOI电光开关中热光效应分析
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TN204

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国家自然科学重大基金资助项目 (69990 5 40 698962 60 ),国家“九七三”资助项目 (G2 0 0 0 0 3 66)


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    摘要:

    分析了 SOI(silicon- on- insulator) 2× 2电光开关工作时热光效应对等离子色散效应的影响。采用二维半导体器件模拟器 PISCES- 对器件进行了模块。结果表明 ,热光效应对等离子色散效应的影响与调制区长度密切相关 ,当调制区长度较短时 ,热光效应的影响不容忽视 ;当调制区长度大于 5 0 0μm时 ,这种影响可以忽略不计。

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引用本文

严清峰,余金中. SOI电光开关中热光效应分析[J].光电子激光,2003,(1):1~4

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  • 最后修改日期:2002-08-21
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