SOI近红外Si0.8Ge0.2/Si横向pin探测器的研制
DOI:
CSTR:
作者:
作者单位:

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

TN215

基金项目:

国家自然科学基金,国家重点基础研究发展计划(973计划),69836020,2002CB311905,,


Development of Near-infrared Si0.8Ge0.2/si Lateral pin Photodetector Fabricated on SOI
Author:
Affiliation:

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    给出了SOI近红外Si0.8Ge0.2/Si横向pin光电探测器的设计和制作过程。对制得的样管进行了典型光电参数的测试。测试结果表明,探测器的响应波长范围为0.4~1.3μm,峰值响应波长在0.93~0.97μm,峰值波长下响应度达0.38μA/μW,与Si光电探测器相比,出现明显的响应波长范围和响应峰值波长红移,光电性能达到了预先的设计目标。

    Abstract:

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

莫太山 张世林 郭维廉 郭辉 郑云光. SOI近红外Si0.8Ge0.2/Si横向pin探测器的研制[J].光电子激光,2003,(12):1277~1280

复制
分享
文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:
  • 最后修改日期:2003-04-25
  • 录用日期:
  • 在线发布日期:
  • 出版日期:
文章二维码