首页 > 过刊浏览>2003年第卷第5期 >466-468
PDF HTML阅读 XML下载 导出引用 引用提醒
光敏二极管的可靠性和寿命分析
DOI:
CSTR:
[cstr]
作者:
作者单位:

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

TN312

基金项目:

天津市科委科技攻关项目(023107511)


The Analysis for Reliability and Life of the Photo-sensitive Diodes
Author:
Affiliation:

Fund Project:

  • 摘要
    • |
  • 图/表
    • |
  • 访问统计
    • |
  • 参考文献
    • |
  • 相似文献
    • |
  • 引证文献
    • |
  • 资源附件
    • |
  • 文章评论
    摘要:

    在大量实验的基础上,通过理论分析和数据处理,采用威布尔概率纸图估法,评估了为某种设备的特殊需要生产的一种新型硅光电探测器的可靠性和寿命。在正常工作条件(300K)时,器件的平均寿命为1.04×108h;在40℃时,器件的失效率等级达到国家标准规定6级。详细分析了光敏二极管的失效模式及失效机理,提出了提高光敏二极管的可靠性和寿命的措施。

    Abstract:

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

张生才 郑云光 张世林 李树荣 赵毅强 姚素英 朱胜利.光敏二极管的可靠性和寿命分析[J].光电子激光,2003,(5):466~468

复制
分享
文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:
  • 最后修改日期:2002-08-20
  • 录用日期:
  • 在线发布日期:
  • 出版日期:
文章二维码
邮政编码：300384 电话：022-60214470
网址：http://www.joelcn.net E-mail：baenxu@263.net
技术支持：北京勤云科技发展有限公司
光电子激光 ® 2025 版权所有