Automaticlly Changeable Scan Control of Linear CCD with CPLD Substituting for Micro-controller
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摘要:
从CCD积分时间预测的角度提出了一种新的CCD自动变扫描控制方法,并以复杂可编程逻辑器件(CPLD)替代单片机或DSP作为系统的控制核心,使系统能够满足高速实时测量的要求,使用超高速集成电路硬件描述语言(VHDL)对该系统进行了行为描述,并采用MAX PLUS Ⅱ软件对所设计的系统进行了仿真。测试表明,所设计的自动变扫描控制系统可以满足光积分时间的高速自动调节。