实验在基于传统相变光盘(CD-R／W)的测试系统上进行。在一定的写入功率和脉宽条件下对super-RENS样片进行静态记录，并和传统CD-R／W作对比实验，用扫描电镜(SEM)观察两种盘结构上的记录点，从微观形貌、尺寸参数等方面进行深入研究比较。实验结果表明，使用相同的记录系统和在完全相同的写入条件下，super-RENS上的记录符小于CD-R／W上的记录符，尺寸减小可达40％。