基于光测弹性学中测量残余应力的基本理论，提出应用纵向电光调制器测量透明半透明材料残余应力的新方法。材料的残余应力会使通过材料后的线偏光产生相位延迟，而纵向电光调制器可以精确地调节线偏光的相位延迟，合理利用调节电光位相延迟补偿由残余应力引起的相位延迟，通过对调制电压的精确测量就能达到精确测量材料残余应力的目的。对两种标准聚碳酸酯的测量实验表明，采用这种方法测量物质残余应力装置简单，测量方便．且对残余应力的测量灵敏度容易达到λ／1000。