多线阵CCD拼接检测宽幅PS版表面缺陷的研究
DOI:
CSTR:
作者:
作者单位:

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

TN247

基金项目:


Study on Inspection of Wide PS Plates Quality Based on Linear CCD Assembling Technique
Author:
Affiliation:

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    提出采用多线阵CCD拼接对宽幅PS版表面缺陷进行检测的方法.用多个线阵CCD对宽幅面PS版表面进行分段成像,利用同步驱动使多个CCD并行工作,通过PCI高速数据采集系统将图像送入计算机,再通过图像处理算法进行缺陷检测,检测幅面宽度为1.2 m,分辨率为0.1 mm,检测速度为10 m/min.

    Abstract:

    A novel wide PS plates quality inspection scheme was developed with multi-optical imaging systems linear COD assembling technique. This method can overcome the shortcoming of the conventional linear OOD assembling methods, extend the measuring range of COD and make the system adjust more conveniently. PS plates surface is dived into several segments and imaged on several COD sensor. These COD sensors are driven synchronously and parallel in order to collect data in high speed of 10 m/min. The measurable width of this system reaches 1.2 m,and the resolution can be up to 0.1 mm.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

王勤 王庆有 齐龙.多线阵CCD拼接检测宽幅PS版表面缺陷的研究[J].光电子激光,2005,(11):1350~1354

复制
分享
文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:2005-03-09
  • 最后修改日期:
  • 录用日期:
  • 在线发布日期:
  • 出版日期:
文章二维码