融入FPGA技术的半导体激光器功率-电流-电压测试系统
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TN248.4

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A Laser Diode P-I-V Testing System Based on FPGA
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    提出了一种新型的半导体激光器(LD)功率(P) 电流(I) 电压(V)自动测试系统。该方案融入FPGA技术,采用日立SH系列HD64F7045单片机为控制核心,实现了高稳定度的 LD驱动和温度控制。LD控制单元中,应用负反馈技术实现注入电流 IF、驱动电压 VF 和光功率 Po 的高稳定控制;采取了软启动控制、短路开关和限幅保护的措施,有效地保证了LD的安全。LD温度控制单元中,采用了比例积分(PI)控制技术并结合积分分离的思想,使温度控制快速而有效。实验表明,注入电流的稳定度达到10-4量级,温度稳定度优于±0.01 ℃。最后,给出了通过GPIB接口对LD进行P- I- V曲线及相关参数的测试结果。

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引用本文

杨明伟,许文海,顾慧萍.融入FPGA技术的半导体激光器功率-电流-电压测试系统[J].光电子激光,2005,(3):344~348,353

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