TN383.2
天津市自然科学基金资助项目(013615211);天津理工学院科技发展基金资助项目(LG04032);天津市重点学科资助项目
用电子束蒸发的方法制备了ZnS:Zn,Pb荧光薄膜,分别经400℃、600℃退火处理。采用X射线衍射(XRD)、X射线光电子能谱(XPS)、扫描电子显微镜(SEM)、光致发光(PL)谱等,表征了ZnS:Zn,Pb荧光薄膜的结构、成分、形貌和发光性能。实验表明,随着退火温度的升高,薄膜的结构程度提高,弥补了薄膜晶体表面的表面缺陷,提高了薄膜的发光性能。因此,退火处理是提高ZnS:Zn,Pb荧光薄膜发光性能的有效方法之一。
张晓松 李岚 陶怡 徐征 邹开顺. ZnS:Zn, Pb薄膜的制备及其发光性能研究[J].光电子激光,2005,(9):1040~1044