MS/RF CMOS工艺兼容的光电探测器模拟与测试
DOI:
CSTR:
作者:
作者单位:

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

TN366

基金项目:

国家高技术研究发展计划(863计划);国家自然科学基金


Simulation and Measurement of MS/RF CMOS-Compatible Photodetectors
Author:
Affiliation:

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    设计了一种新型的与MS/RF CMOS工艺全兼容、带深n阱(DNW)、浅沟槽隔离(STI)的双光电探测器,分析了其工作机理,用器件模拟软件ATLAS对其暗电流、响应电流、光调制频率响应和波长响应进行了模拟。采用TSMC 0.18μm MS/RF CMOS工艺进行了流片,对芯片进行了暗电流和响应度的测试。模拟和测试结果均表明。该探测器与常规双光电探测器相比,具有较低的暗电流和较高的响应度。

    Abstract:

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

雷晓荃,毛陆虹,陈弘达,黄家乐. MS/RF CMOS工艺兼容的光电探测器模拟与测试[J].光电子激光,2006,(12):1413~1417

复制
分享
文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:2006-01-15
  • 最后修改日期:2006-04-12
  • 录用日期:
  • 在线发布日期:
  • 出版日期:
文章二维码