基于Ni/Ag/Pt的P型GaN欧姆接触
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中图分类号:

TN312

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国家自然科学基金;国家重点基础研究发展计划(973计划);高比容电子铝箔的研究开发与应用项目;北京市科委科研项目


Ni/Ag/Pt Ohmic Contacts to P-type GaN
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    提出了新型的Ni/Ag/Pt结构作为具有高光学反射率、低比接触电阻率(SCR)的p-GaN欧姆接触电极。在Ni/Ag/Pt厚度分别为3 nm/120 nm/2 nm的条件下,在500℃、O2气氛中退火3 min,获得了80%的光学反射率(460 nm处)和4.43×10-4Ω.cm2的SCR,样品的表面均方根(RMS)粗糙度约为8nm。俄歇电子能谱(AES)分析表明,Pt很好地改善了Ag基电极退火后的表面形貌,Ni、Ag对形成良好的欧姆接触起了重要的作用。

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引用本文

马洪霞,韩彦军,申屠伟进,张贤鹏,罗毅,钱可元.基于Ni/Ag/Pt的P型GaN欧姆接触[J].光电子激光,2006,(6):650~653

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  • 收稿日期:2005-09-20
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