电子束蒸发非晶硅光学薄膜工艺研究
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O484.1 O484.4

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国家研究发展基金;北京市科委科研项目;北京市教委科研项目


Process Investigation of Electron Beam Evaporation Deposited Amorphous Silicon Optical Films
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    研究了沉积时真空室真空度、基片温度和沉积速率对常用电子束蒸发非晶硅(a-Si)光学薄膜的折射率和消光系数的影响。结果表明,在300~1100nm的波长范围内,真空室真空度、基片温度和沉积速率越高,则所得a-Si薄膜折射率越高,消光系数越大。并将实验结果用于半导体激光器腔面高反镜用a-Si膜镀制,发现在选择初始真空为1E-6×133Pa、基片温度为100℃和沉积速率为0.2nm/s时所得高反镜的光学特性比较好,在808nm处折射率和消光系数分别为3.1和1E-3。

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引用本文

舒雄文,徐晨,田增霞,罗丹,沈光地.电子束蒸发非晶硅光学薄膜工艺研究[J].光电子激光,2006,(8):905~908

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  • 收稿日期:2005-10-23
  • 最后修改日期:2006-03-24
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