微表面形貌大视场检测相移显微干涉仪研制
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TH744.3

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中国科学院资助项目;国家重点基础研究发展计划(973计划);新世纪优秀人才支持计划


A Large Field Phase Shifting Interference Microscope for Surface Topography Measurement
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    基于相移干涉术,研制了立式大视场Mirau相移显微干涉仪,它包括干涉成像和照明系统、竖直方向上的压电陶瓷传感器(PZT)微位移系统、被测面的两维扫描系统、图像采集和处理系统,是无限筒长显微镜结构和Mirau干涉结构的叠加。大视场表面形貌通过多孔径扫描拼接实现。单片机串口控制电路控制电控平移台的精确位移,实现了被测面的两维扫描,最小的横向位移为0.039μm,扩展后的视场达到12.5mm×12.5mm。测量了光纤连接器端面的表面形貌,重复测量精度小于2nm。

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引用本文

张红霞,张以谟,井文才,李朝辉,周革,朱蔚.微表面形貌大视场检测相移显微干涉仪研制[J].光电子激光,2006,(8):934~936

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  • 收稿日期:2005-10-12
  • 最后修改日期:2006-02-22
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