用Fowler-Nordheim公式测定ITO功函数的研究
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O484.5

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国家自然科学基金 , 上海市教委资助项目


Study of Work Function Measurement of ITO by Fowler-Nordheim Formula
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    摘要:

    通过制备双边注入型单载流子器件ITO/TPD(NPB)/Cu,运用Fowler-Nordheim(F-N)公式变换,消除了载流子有效质量和器件厚度因素的影响,提高了测量的精度,简单准确地测定了ITO的功函数.实验测得值分别为4.85 eV、4.88 eV,与ITO的文献报道值接近.该方法操作简便,可以用来测定半导体和金属电极特别是合金电极的功函数.

    Abstract:

    Devices ITO/TPD(NPB)/Cu were made.Through transforming Fowler-Nordheim(F-N) formula,the work function of ITO was measured by avoiding the influences of carrier masses and device thickness.We got the results 4.78 eV and 4.88 eV which were close to what references reported.This method simply brought to better results and provided a reference for measuring work-function of semiconductor and metal especially alloy electrodes.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

程洁,朱文清,委福祥,蒋雪茵,张志林.用Fowler-Nordheim公式测定ITO功函数的研究[J].光电子激光,2007,(8):907~910

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  • 收稿日期:2005-07-29
  • 最后修改日期:2006-09-20
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