用迈克尔逊干涉仪测量隐失场
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TP206.1

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国家自然科学基金


Measurement of Evanescent Field by Michelson Interferometer
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    摘要:

    提出了一种用迈克尔逊干涉仪探测隐失场的方法.利用切向力调制方法确定安装在双压电陶瓷片上光纤探针与样品间的最小距离,通过压电陶瓷管控制探针移动,用光电倍增管测量光纤探针的输出光信号强度,获得了全内反射产生的隐失场度随探针与样品间距增加而快速衰减的特性曲线.结果表明,这种测量装置具有结构简单可靠、操作方便等特点.

    Abstract:

    We present a method to measure the evanescent field by Michelson interferorneter. The optical fiber probe is glued on a piezoelectric bimorph,and the initial position between the tip and the smple surface is controlled based on shear force detection method. With the decrease of the voltage applied on the PZT tube,the tip-sample distance is controlled,at same time the optical intensity of evanescent field generated by total internal reflection is detected by a photornultiplier,the function of evanescent filed intensity-distance between probe and sample surface can be obtained. This kind of device is simple and easy to operate;also it has the advantage of high reliability.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

徐平,钱建强,余威,蔡微,姚骏恩.用迈克尔逊干涉仪测量隐失场[J].光电子激光,2007,(8):970~972

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  • 收稿日期:2006-08-24
  • 最后修改日期:2006-10-31
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