用于CMOS图像传感器的列并行RSD循环ADC
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A column RSD cyclic ADC for CMOS image sensor
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    设计了一种用于CMOS图像传感器的列并行RSD循环ADC.转换和采样同步进行,速度比传统的循环ADC提高了1倍,适用于高速实时系统的应用.将采样保持,精确乘2和像素信号的FPN噪声消除功能用1个运放和6个电容来实现,大大缩小了面积.采用RSD算法,不但降低了对比较器的精度要求,并且实现了较高的线性度.通过失调反向存储,基本消除运放失调引入的列FPN噪声.该ADC在0.18μm工艺下,实现了10位精度和500 KS/S的高转换速度.ADC的DNL= 0.5/-0.5 LsB,INL= 0.1/-1.5 LSB.

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引用本文

张娜,姚素英,张钰.用于CMOS图像传感器的列并行RSD循环ADC[J].光电子激光,2008,(9):

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