基于硼酸溶液处理的GaAs/InP低温晶片键合技术
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TN305

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国家重点基础研究发展计划“973”资助项目(2010CB327600); 国家高技术发展研究计划项目“863”资助项目(2006AA03Z416,2007AA03Z418,2009AA03Z405,2009AA03Z417); 北京市教育委员会共建资助项目(XK100130637); 北京市“科技新星计划”资助项目(2006A46); 国际科技合作重点项目计划资助项目(2006DFB11110); 高等学校学科创新引智计划资助项目(B07005); 教育部“长江学者和创新团队发展计划”资助项目(IRT0609)


Low temperature GaAs/InP wafer bonding based on boric acid treatment
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    摘要:

    提出了一种基于硼酸溶液的GaAs/InP低温晶片键合技术,实现了GaAs/InP基材料间简单、无毒性的高质量、低温(290℃)晶片键合。GaAs/InP键合晶片解理截面的扫描电子显微镜(SEM)图显示,键合界面整齐,没有裂缝和气泡。通过键合过程,InP上的In0.53Ga0.47As/InP多量子阱结构转移到了GaAs基底上。X射线衍射及荧光谱显示,键合后的多量子阱晶体质量未变。二次离子质谱(SIMS)和Raman光谱图显示,GaAs/InP键合晶片的中间层厚度约为17 nm,界面处B元素有较高的浓度,键合晶片的中间层很薄,因此可以得到较好的电学、光学特性。

    Abstract:

    An approach for low temperature(290 ℃) GaAs/InP wafer bonding based on boric acid treatment is presented.The GaAs/InP wafer bonding among substrate materials under low temperature is realized easily and nontoxicly.From the scanning electron microscope(SEM) image of the cross section of GaAs/InP wafer,it can be seen that no gap and bubble are found along the bonding interface.An In0.53Ga0.47As/InP multiple quantum well(MQW) structure grown on InP is transferred onto GaAs substrate via the bonding...

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引用本文

宋海兰.基于硼酸溶液处理的GaAs/InP低温晶片键合技术[J].光电子激光,2010,(10):

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