电子束反应蒸发制备高迁移率IMO薄膜及其性能研究
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O484.4

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国家“973”重点基础研究资助项目(2011CB201605,2011CB201606,2011CB201607);天津市应用基础及前沿技术研究计划资助项目(09JCYBJC06900);中央高校基本科研业务费专项资金资助项目(65010341)


Fabrication and characteristics of high-mobility transparent conducting IMO thin films via reactive electron beam vapor deposition
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    摘要:

    研究了掺杂剂含量对电子束反应蒸发技术生长掺钼氧化铟(In2O3:Mo,IMO)薄膜的微观结构以及光学和电学性能的影响。采用高纯度In2O3:MoO3陶瓷靶和O2作为源材料。随着MoO3掺杂剂含量的增加,IMO薄膜电阻率先降低而后增加,光学性能呈现薄膜透过率下降的趋势。在1.0 wt.%MoO3掺杂剂含量时,获得最佳薄膜性能,薄膜电阻率ρ约为1.97×10-4Ω.cm,方块电阻Rs约为18Ω/□,载流子浓度n约为6.85×1020cm-3,电子迁移率μ约为46.3 cm2.V-1.s-1,可见光和近红外区域透过率T约为75%~85%(含玻璃衬底)。这种高迁移率的IMO薄膜有望应用于μc-Si:H薄膜太阳电池以及a-Si:H/μc-Si:H硅叠层薄膜太阳电池。 更多还原

    Abstract:

    The influence of MoO3 doping concentration on the microstructure,optical and electrical properties of In2O3:MoO3(IMO) thin films deposited by the reactive electron beam vapor technique is investigated in detail.High purity In2O3:MoO3 ceramic targets and oxygen gas are used as source materials.With the increase of MoO3 doping concentration,the resistivity of IMO thin films decreases until 1.0 wt.% but then increases from 2.0 wt.% to 10 wt.%,and the optical transmittance shows a downward tendency....

    参考文献
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    引证文献
引用本文

陈新亮,韩东港,张德坤,孙建,耿新华,赵颖.电子束反应蒸发制备高迁移率IMO薄膜及其性能研究[J].光电子激光,2011,(7):1022~1025

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