玻璃基交叉波导的损耗特性研究
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作者:
作者单位:

(1.浙江大学 信息与电子工程学院,浙江 杭州 310027; 2.中兴通讯股份有限公司,广东 深圳 518057)

作者简介:

郝寅雷(1974-),男,河南安阳人,博士后,副 教授,主要从事玻璃基集成光学器件方面的研究.

通讯作者:

中图分类号:

基金项目:

国家自然科学基金(61428502)、浙江省自然科学基金(Y1100665)和中兴通讯产学研合作资助项目 (1.浙江大学 信息与电子工程学院,浙江 杭州 310027; 2.中兴通讯股份有限公司,广东 深圳 518057)


Studies on cross-waveguide loss in glass substrate
Author:
Affiliation:

(1.College of Information Science & Electronic Engineering,Zhejiang Un iversit y,Hangzhou 310027,China; 2.Zhongxing Telecommunication Equipment Corporation,She nzhen 518057,China)

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    摘要:

    玻璃材料上的光波导是实现光电印制电路板(EOCB )中导光层制作的重要候选材料,交叉波导是EOCB上常用的集成光学结构,交叉损耗是其关 键的参 数之一。采用离子交换(IE)法和电场辅助离子迁移(FAIM)技术在玻璃基片上制作了宽分别为 5、10、20、30μm的垂直交叉光波导, 并对波导宽度对波导损耗的影响进行了研究。研究结果表明,玻璃交叉波导损耗对波导宽度 有明显的依赖关系,当波导宽从40μm减小到5μm时,交叉波导损 耗从0.071dB减小到0.019 dB。研究结果可为EOCB上波导交叉结构的 优化提供了参考。

    Abstract:

    Cross-waveguide is one of building bl ocks widely employed in electro-optical circuit board (EOCB) light-guiding lay er.To characterize the dependence of cross-waveguide loss on waveguide width,pe rpe ndicular cross-waveguides with different widths of 5μm,10μm,20μm,30μm and 40μm have been manufactured by ion-exchange (IE),and subsequently el ectric field-assisted ion-migration (FAIM) in glass substrate.Crossing loss of these waveguides has been characterized on these waveguides.Res ults show that the crossin g loss of waveguide on glass substrate exhibits significant dependence on wavegu ide width:with waveguide width decreasing from 40μm to 5μm,the crossing lo ss o f glass-based waveguide decreases from 0.071dB/cross to 0.019dB/cross.The dep endence of crossing loss on optical waveguide provides a new dimension for the o ptimization of EOCB.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

郝寅雷,冯泽明,曾福林,王志坚,杨建义,王明华.玻璃基交叉波导的损耗特性研究[J].光电子激光,2015,26(12):2251~2255

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  • 收稿日期:2015-07-05
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  • 在线发布日期: 2016-02-29
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