微型磁瓦表面线缺陷视觉检测方法研究
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作者:
作者单位:

(1.浙江理工大学 启新学院,浙江 杭州 310018; 2.浙江理工大学 自动化系,浙江 杭州 310018; 3.浙江理工大学 电子信息工程系,浙江 杭州 310018)

作者简介:

李俊峰(1978-),男,河南南阳,博士,副教授,主要从事 机器视觉、产品视觉检测等方面的研究.

通讯作者:

中图分类号:

基金项目:

此项工作得到国家自然科学基金(61374022)、浙江省公益性技术应用研究计划 项目(LGG18F030001,GG19F030034)和金华市科学技术研究计划重点项目(2018-1-027) 资助项目 (1.浙江理工大学 启新学院,浙江 杭州 310018; 2.浙江理工大学 自动化系,浙江 杭州 310018; 3.浙江理工大学 电子信息工程系,浙江 杭州 310018)


Study on visual detection method of surface linear defects on micro-magnetic ti le
Author:
Affiliation:

(1.Qixin Honors School,Zhejiang Sci-Tech University,Hangzhou 310018,China; 2.Department of Automation,Zhejiang Sci-Tech University,Hangzhou 310018,China; 3. Department of Electronic Information Engineering,Zhejiang Sci-Tech University,Hangzhou 310018,China)

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    摘要:

    针对微型磁瓦图像对比度低、纹理背景复杂、亮 度不均匀、缺陷区域小等特点,本文提出了一种微 型磁瓦表面线缺陷视觉检测方法。首先,构造自适应静态掩膜,屏蔽微型磁瓦轮廓;其次, 采用非线性各 向异性扩散方程,抑制微型磁瓦表面纹理;进而,构造动态掩膜自下而上扫描磁瓦图像,提 取线缺陷区域; 最后,在开发的微型磁瓦视觉检测实验装置上,进行了大量的实验研究。实验结果表明,本 文缺陷提取算 法能够较准确提取出磁瓦表面图像的线缺陷,表面缺陷检测的准确率为94.6%。

    Abstract:

    The micro-magnetic tile image has the characteristics of low contrast ,complex texture background, uneven brightness and small defect area.This paper proposes a method of linear detects on micro-magnetic tile surface.Firstly,an adaptive static mask is constructed to shield the micro-ma gnetic tile profile.Secondly,the nonlinear anisotropic diffusion equation is used to suppress the surface texture of the micro-magnetic tile. Further,the dynamic mask is constructed to scan the magnetic tile image from th e bottom to the top,and the linear defects are extracted.Finally,an experimental device for visual inspect ion of micro-magnetic tiles was developed and a large number of experimental studies were carried out.The exper imental results show that the defect extraction algorithm can accurately extract the linear defects on micro- magnetic tile,and the accuracy of surface defect detection is 94.6%.

    参考文献
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    引证文献
引用本文

张露滨,李俊峰,沈军民.微型磁瓦表面线缺陷视觉检测方法研究[J].光电子激光,2019,30(9):951~959

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  • 收稿日期:2019-03-25
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  • 在线发布日期: 2019-10-23
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